一、考試要求
要求考生系統(tǒng)、全面地掌握數(shù)字電子技術(shù)的基本概念、基本定律，基本理論、基本分析方法、基本設(shè)計(jì)方法及典型應(yīng)用電路，并且能靈活運(yùn)用，具有較強(qiáng)的分析和設(shè)計(jì)能力。
二、考試內(nèi)容
第1章 邏輯代數(shù)基礎(chǔ)
第一節(jié) 概述
數(shù)字量和模擬量、數(shù)制和碼制、算術(shù)運(yùn)算和邏輯運(yùn)算；
第二節(jié) 邏輯代數(shù)中的三種基本運(yùn)算
第三節(jié) 邏輯代數(shù)中的基本公式和常用公式
基本公式、常用公式；
第四節(jié) 邏輯代數(shù)的基本定理
代入定理、反演定理、對(duì)偶定理；
第五節(jié) 邏輯函數(shù)及其表示方法
邏輯函數(shù)、表示方法、標(biāo)準(zhǔn)形式；
第六節(jié) 邏輯函數(shù)的公式化簡(jiǎn)法
最簡(jiǎn)形式、化簡(jiǎn)方法；
第七節(jié) 邏輯函數(shù)的卡諾圖化簡(jiǎn)法
卡諾圖、卡諾圖表示邏輯函數(shù)、卡諾圖化簡(jiǎn)法；
第八節(jié) 具有無(wú)關(guān)項(xiàng)的邏輯函數(shù)及其化簡(jiǎn)
約束項(xiàng)、邏輯函數(shù)的無(wú)關(guān)項(xiàng)、無(wú)關(guān)項(xiàng)在邏輯函數(shù)化簡(jiǎn)中的應(yīng)用；
第2章 門(mén)電路
第一節(jié) 概述
第二節(jié) 半導(dǎo)體二極管和三極管的開(kāi)關(guān)特性
二極管的開(kāi)關(guān)特性、三極管的開(kāi)關(guān)特性；
第三節(jié) 最簡(jiǎn)單的與、或、非門(mén)電路
二極管的與門(mén)、二極管的或門(mén)、三極管的非門(mén)；
第四節(jié) TTL門(mén)電路
結(jié)構(gòu)與原理、靜態(tài)輸入特性和輸出特性等、其它類型的TTL門(mén)電路、TTL電路的改進(jìn)系列；
第五節(jié) COMS門(mén)電路
工作原理、靜態(tài)輸入特性和輸出特性等、其它類型的COMS門(mén)電路、改進(jìn)的COMS門(mén)電路、COMS電路的正確使用；
第六節(jié) TTL電路與MOS電路的接口
第3章 組合邏輯電路
第一節(jié) 概述
第二節(jié) 組合邏輯電路的分析方法和設(shè)計(jì)方法
分析方法、設(shè)計(jì)方法、MSI芯片、應(yīng)用電路；
第三節(jié) 常用的組合邏輯電路
編碼器、譯碼器、數(shù)據(jù)選擇器、加法器、數(shù)值比較器；
第4章 觸發(fā)器
第一節(jié) 概述
第二節(jié) 觸發(fā)器的電路結(jié)構(gòu)與動(dòng)作特點(diǎn)
基本RS 觸發(fā)器、同步RS 觸發(fā)器、主從觸發(fā)器、邊沿觸發(fā)器；
第三節(jié) 觸發(fā)器的邏輯功能及其描述方法
觸發(fā)器功能分類、觸發(fā)器的結(jié)構(gòu)與功能的關(guān)系；
第5章 時(shí)序邏輯電路
第一節(jié) 概述
第二節(jié) 時(shí)序邏輯電路的分析方法
同步時(shí)序電路分析方法、狀態(tài)轉(zhuǎn)換圖、狀態(tài)轉(zhuǎn)換圖、時(shí)序圖；
第三節(jié) 若干常用的時(shí)序邏輯電路
寄存器、移位寄存器、計(jì)數(shù)器、順序脈沖發(fā)生器；
第四節(jié) 時(shí)序邏輯電路的設(shè)計(jì)方法
同步時(shí)序邏輯電路的設(shè)計(jì)、自啟動(dòng)的設(shè)計(jì)；
第6章 脈沖波形的產(chǎn)生和整形
第一節(jié) 概述
第二節(jié) 施密特觸發(fā)器
門(mén)電路組成的施密特觸發(fā)器、集成施密特觸發(fā)器、施密特觸發(fā)器應(yīng)用電路；
第三節(jié) 單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器
門(mén)電路組成的單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器、集成單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器；
第四節(jié) 多諧振蕩器
對(duì)稱式振蕩器、非對(duì)稱式振蕩器、環(huán)形振蕩器、用施密特觸發(fā)器構(gòu)成的振蕩器；
第五節(jié) 555定時(shí)器及其應(yīng)用
結(jié)構(gòu)與功能、555組成施密特觸發(fā)器、555組成單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器、555組成多諧振蕩器。
第7章 數(shù)-模和模-數(shù)轉(zhuǎn)換
第一節(jié) 只讀存儲(chǔ)器ROM
第二節(jié) 隨機(jī)存儲(chǔ)器RAM
第8章 數(shù)-模和模-數(shù)轉(zhuǎn)換
第一節(jié) 概述
第二節(jié) DAC
權(quán)電阻網(wǎng)絡(luò)DAC、倒T形電阻網(wǎng)絡(luò)DAC、權(quán)電流型DAC、開(kāi)關(guān)樹(shù)型DAC、轉(zhuǎn)換精度與轉(zhuǎn)換精度；
第三節(jié) ADC
基本原理、取樣-保持電路、直接ADC、間接ADC、ADC轉(zhuǎn)換精度、轉(zhuǎn)換速度。
三、試卷結(jié)構(gòu)
1．考試時(shí)間：180分鐘
2．試卷分值子：150分
3．題型結(jié)構(gòu)：（1）填空題
（2）分析題（包括簡(jiǎn)答題、計(jì)算題 ）
（3）大題 （包括化簡(jiǎn)題、分析題及設(shè)計(jì)題）

四、參考書(shū)目
《數(shù)字電子技術(shù)基礎(chǔ)》（第五版），閻石主編，（高等教育出版社），2006年5月第5版。